Контрольна цифра коректна
EAN-13
Картка товару
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon)
- Країна префікса
- Код для книжок
- Виробник
- (Не определено)
- Торгова марка
- (Не определено)
- Категорія
- Бытовая химия, другое
- Додано в базу
- 11.01.2015 21:44
- Префікс GS1
- 978
Оцінка товару
Можна поставити оцінку від 1 до 5 без відгуку.
Опис
This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume. Most up-to-date coverage of design for testability. Coverage of industry practices commonly found in commercial DFT tools but not discussed in other books. Numerous, practical examples in each chapter illustrating basic VLSI test principles and DFT architectures. Lecture slides for Chapters 1-5 and exercise solutions for Chapters 1, 2, 3 & 5 are available now. Lecture slides and exercise solutions for the remaining chapters will be available by September 15, 2006.Тип обложки: Твердый переплет
Додаткові дані
- ГОСТ / ТУ
- Не вказано
- Термін зберігання
- Не вказано
- Склад
- Не вказано
- Тип коду
- EAN-13
- Контрольна цифра
- 6 / очікувана 6